Die Aufgabe unserer vom Europäischen Forschungsrat (ERC) geförderten Gruppe für fortgeschrittene Elektronenmikroskopie (AEM) besteht darin, Struktur-Eigenschafts-Leistungs-Korrelationen auf atomarer Ebene in funktionalen Materialsystemen zu ermitteln. Basierend auf unserer Fachkompetenz auf dem Gebiet der aberrationskorrigierten Rastertransmissionselektronenmikroskopie für die Bildgebung und Analyse mit atomarer Auflösung in den Materialwissenschaften wollen wir modernste in situ/operando (S)TEM für stimulierbasierte Studien (d.h. Temperatur, elektrische Vorspannung, Gas und Kühlen) entwickeln und anwenden. Eine weitere Richtung wird die Implementierung und Anwendung von impulsaufgelösten STEM (4D-Daten) sein. Wir haben auch ein starkes Interesse an der Analyse großer Datenmengen für EM. Die Gruppe verfügt über ein breites internationales Kooperationsnetzwerk in Wissenschaft und Industrie.
Prof. Molina-Luna war Teil der TUDa Delegation in Taiwan und hielt einen Vortrag auf dem NCKU-TUDa Workshop.
Das iJRL „Memristor Technology“ verfolgt das Ziel, relevante Aspekte der Grundlagen, der Technologie und der Nutzung von memristiven Bauelementen voranzutreiben. Es befasst sich mit den Materialeigenschaften und der Defektstruktur verschiedener Arten von Memristor-Realisierungen auf der Basis von oxidischen, magnetischen und ferroelektrischen Materialien. Auf der Anwendungsseite werden mehrere neuartige Rechenverfahren mit Memristoren zur Steigerung der Energieeffizienz behandelt, darunter FPGAs (Field Programmable Gate Arrays), neuromorphe Berechnungen und speicherinterne Verarbeitung. Auf der Analyse- und Modellierungsseite besteht ein Alleinstellungsmerkmal darin, dass alle relevanten Skalen der Dichtefunktionaltheorie, der Mehrphasen- und Kompaktmodellierung sowie des Schaltungsentwurfs einbezogen werden. Die experimentelle Analyse korreliert fortschrittliche Methoden der Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) mit physikalischen Modellen, die für die kompakte Simulation des Verhaltens von Modellbauelementen und Arrays verwendet werden. Damit etabliert das iJRL eine Methodik von innovativen Materialien über einzelne Bauelemente und Arrays bis hin zur Schaltungsebene, die auch für interessierte Partner im Bereich der elektronischen Materialien und der Halbleiterindustrie auf neu entstehende Materialien in diesem sich schnell entwickelnden Bereich übertragen werden kann.
Dienstag, 28. Februar 2023, 16.00 – 18.00 Uhr
Quantum Detectors und NanoMEGAS möchten Sie zu einem Seminar und einer Live-Demonstration der MerlinEM- und NanoMEGAS DigiSTAR-Präzessionshardware einladen, bei der 4D STEM und Präzession in Zusammenarbeit mit der Technischen Universität Darmstadt (TU Darmstadt) vorgestellt werden.
Bei dieser Veranstaltung werden Vorträge von allen drei Institutionen, Quantendetektoren, NanoMEGAS und der TU Darmstadt, zu hören sein. Die Gruppe von Prof. Dr. Leopoldo Molina-Luna wird eine Live-Demonstration ihres JEOL ARM-200F geben, die die Fähigkeiten des MerlinEM zusammen mit der NanoMEGAS DigiSTAR Präzessionshardware zeigt. Sie erhalten auch VIP-Zugang hinter die Kulissen, um das Labor der TU Darmstadt und den JEOL ARM-200F zu besichtigen.
Diese Veranstaltung findet parallel zur Mikroskopie-Konferenz in Darmstadt statt und kann auch virtuell besucht werden, falls Sie nicht nach Darmstadt kommen können. Quantum Detectors wird auch auf der MC Darmstadt 2023 ausstellen.
Wir hoffen, Sie dort zu sehen. Melden Sie sich unten an!
Diese Urkunde ist eine Anerkennung für den Posterpreis, der Leopoldo Molina-Luna auf der Konferenz „2nd Frontiers in Electron Microscopy for Physical and Life Sciences Princeton-Nature“ vom 28. bis 30. September 2022 verliehen wurde. Als Anerkennung für die Posterpräsentation der Arbeit seines Labors erhielt Leopoldo ein einjähriges Abonnement der internationalen Wissenschaftszeitschrift Nature.
OPERANDO ZWEI-TERMINAL-GERÄTE IN EINEM TRANSMISSIONSELEKTRONENMIKROSKOP
Oscar Recalde-Benitez1, Tianshu Jiang1, Robert Winkler1, Alexander Zintler1, Yating Ruan2, Esmaeil Adabifiroozjaei1, Alexey Arzumanov2, Tijn van Omme3, William A. Hubbard4,5 Yevheniy Pivak3, Hector H. Perez-Garza3, B. C. Regan 4,5, Philipp Komissinskiy2, Lambert Alff2 and Leopoldo Molina-Luna1*
1. Advanced Electron Microscopy Division, Department of Materials- and Earth Science, Technical University of Darmstadt, Darmstadt, Hessen, Germany.
2. Advanced Thin Film Technology Division, Department of Materials- and Earth Science,Technical University of Darmstadt, Darmstadt, Hessen, Germany.
3. DENSsolutions, Delft, Netherlands.
4. NanoElectronic Imaging, Inc., Los Angeles, CA, USA.
5. University of California, Los Angeles and the California NanoSystems Institute, Los Angeles, USA.