Funktionsweise von Geräten auf Oxidbasis unter elektrischem Feld:Auf dem Weg zur atomar auflösenden Operando-Nanoskopie (FOXON)
Das Verständnis der Sauerstoffdynamik ist ein Schlüssel zu einer überlegenen Geräteleistung in der Emergenzoxid-Elektronik. Bislang ist es ein unerfüllter Traum, das elektrische Verhalten und die atomare Struktur während des Gerätebetriebs zu korrelieren. Hier stellen wir uns vor, die Kluft zwischen theoretischen Modellen und experimenteller Realität zu überbrücken. Jüngste Fortschritte bei Chips für mikroelektromechanische Systeme (MEMS) für die In-situ-Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) eröffnen aufregende neue Wege in der Forschung im Nanobereich. Die Fähigkeit, Strom-Spannungsmessungen durchzuführen und gleichzeitig die entsprechenden strukturellen, chemischen oder sogar elektronischen Strukturänderungen während des Betriebs eines elektronischen Geräts zu analysieren, wäre ein bedeutender Durchbruch für die Nanoelektronik. Studien mit kontrollierten elektrischen Feldern würden eine noch nie dagewesene Möglichkeit zur Untersuchung von Metalloxid-Funktionsgeräten mit Hilfe eines Lab-on-a-Chip-Ansatzes ermöglichen.
Mehr erfahren
