Projektmitglieder:
Oscar Recalde (Doktorand), Leopoldo Molina-Luna (PI)
Beschreibung:
Oxidbasierte Bauelemente für elektronische Anwendungen spielen eine wichtige Rolle bei der Entwicklung einer schnelleren und zuverlässigeren Informationstechnologie. Gegenwärtig ermöglichen fortschrittliche Dünnschicht-Wachstumsmethoden die Miniaturisierung von Dünnschicht-Bauelementen, die sogar Dicken von wenigen Einheitszellen erreichen können. Daher ist die Untersuchung solcher Heterostruktur-Bauelemente auf der Nanoskala heutzutage von entscheidender Bedeutung für das Verständnis der grundlegenden Mechanismen. In dieser Hinsicht sind die Techniken der Transmissionselektronenmikroskopie die perfekten Werkzeuge, die die Charakterisierung dünner Schichten bis hinunter zur atomaren Skala ermöglichen. Darüber hinaus ermöglicht die jüngste Entwicklung von MEMS-basierten Chips die Untersuchung von Materialien unter Arbeits- oder so genannten „operando“-Bedingungen in einem TEM, d. h. die Anwendung eines Stimulus während der TEM-Beobachtung. Polarisation in Dielektrika, Phasentrennung in Perowskit-Solarzellen und Defektlokalisierung in RRAMs unter elektrischen und thermischen Stimuli sind einige Beispiele für unsere aktuelle Forschung.
