Gerät: STOE Transmissionsdiffraktometer, Seifert XRD 3003 PTS-3, Bruker D8
Einsatzgebiet: Phasenbestimmung in allen polykristallinen Materialien
Analytische Charakteristika: Mikrobeugung möglich, Temperaturbereich 77 K -T -2000 K
Gerät: STOE Transmissionsdiffraktometer, Bruker D8, Seifert XRD 3003 PTS-3
Einsatzgebiet: Strukturverfeinerung in allen polykristallinen Materialien
Analytische Charakteristika: Rietveld-Verfeinerung
Gerät: Seifert XRD 3003 PTS-3, Siemens D8
Einsatzgebiet: Eigenspannung in Stählen, Legierungen, Kompositen, Polymeren
Analytische Charakteristika: Oberflächenbegrenzt, Tiefenauflösung möglich durch Abtragung
Gerät: Seifert XRD 3003 PTS-3
Einsatzgebiet: Texturen in Stählen, Legierungen, Kompositen, Polymeren
Analytische Charakteristika: kubisches, hexagonales und tetragonales Kristallsystem
Gerät: Seifert XRD 3003 PTS-3, Bruker D8
Einsatzgebiet: Schichtdicken, Schichtdichten, Oberflächenrauhigkeit, Grenzflächenrauhigkeiten
Analytische Charakteristika: extrem oberflächensensitiv
Gerät: 4-Kreisdiffraktometer Oxford XCALIBUR
Einsatzgebiet: Bestimmung der Kristallstruktur von Einkristallen
Analytische Charakteristika: alle Kristallsysteme, Temperaturbereich 100 – 600 K