Methoden

AA Aktivierungsanalyse
AAS Atomabsorptionsspektrometrie
AE Akustische Emission
AFM Atomic force microscopy (= AFP, RKM)
AFP Atom force probe (= AFM, RKM)
AFP Auger-Elektronenspektrometrie
ARM Atomic resolution (transmission electron) microscopy (= HRTEM) Transmissionselektronenmikroskopie mit atomarer AuflösungAtomic resolution (transmission electron) microscopy (= HRTEM) Transmissionselektronenmikroskopie mit atomarer Auflösung
ARUPS Angle resolved UPS, winkelaufgelöste UPS
ATR-IR Attenuated total reflection infrared (spectrometry), Totalreflexions IR-Spektrometrie
BET Stickstoffadsorption
CBED Convergent beam electron diffraction (in STEM)
CEMS Mößbauerspektroskopie
CPAA Charged particle activation analysis, Aktivierungsanalyse mit geladenen Teilchen
CTEM Konventionelle Transmissions-Elektronen-Mikroskopie
CVD Chemical vapour deposition, chemische Abscheidung aus der Gasphase
DCEMS Mößbauerspektroskopie (tiefenselektiv)
DIL Dilatometrie
DTA/DSC Temperatur / Wärmestrom-Differenz
EDX(RS) Energy dispersive X-ray spectrometry, energiedispersive Röntgenfluoreszenzspektrometrie
EELS Electron energy loss spectrometry, Elektronen-Energieverlust-Spektrometrie
EFTEM Energy filtering – Transmissions Elektronenmikroskopie (GIF)
ELNES Energy Loss Near Edge Structure
ERD Elastic recoil detection
EPMA Electron probe micro analysis
ESCA Elektronenspektrometrie zur chemischen Analyse (ursprüngliche Sammelbezeichnung von Siegbahn für XPS und UPS)
ESMA Elektronenstrahlmikroanalyse (oder -mikrosonde)
ESEM Environmental Scanning Electron Microscopy
EXAFS Extended X-ray absorption fine structure (spectrometry)
FAAS Atomabsorptionsspektrometrie in der Flamme
FMS Funken-Massenspektrometrie (engl.: SSMS)
GFAAS Graphite furnace atomic absorption spectrometry, Graphitofen-AAS
GIXD Grazing incidence x-ray diffraction
GEXD Grazing exit x-ray diffraction
HRFD High resolution Fourier Diffractometer (Neutron)
HRTEM High resolution electron microscopy (= ARM)
IC Ionenchromatographie
ICEMS Mößbauerspektroskopie (Energieintegrale Messung)
ICP-OES-MS Inductively coupled plasma optical emission spectrometry, masspectrometry, Induktiv gekoppelte Plasma-Emissionsspektrometrie, -Massenspektrometrie
INS Inelastische Neutronenstreuung
IR Infrarotspektroskopie
ISS Ion scattering spectrometry, Ionenstreu-Spektrometrie
LEED Low energy electron scattering, niederenergetische Elektronenstreuung
LEISS Low energy ion scattering, niederenergetische Ionenstreuung
LF Laser-Flash, Temperaturleitwertbestimmung
MBE Molekular beam epitaxie
MS Massenspektrometrie
MSC Molecular sieve chromatography, Molekülsiebchromatographie
NAA Neutronenaktivierungsanalyse
NEXAFS Near edge X-ray absorption fine structure (spectrometry)
NRA Nuclear Reaction Analysis, Kernreaktionsanalyse
NRSE Neutron residual stress evaluation
NTD Neutron texture determination
OES Optische Emissions-Spektrometrie
PAP PAP-Korrekturverfahren zur RFA-Auswertung in der ESMA nach Pouchou und Pichoir (angewandt in CAMECA-Geräten)
PCS Photon correlation spectrometry
PEEM Photoemissions-Elektronen-Mikroskop
QIA Quantitative image analysis
RBS Rutherford backscattering spectrometry (= RRS)
REM Rasterelektronenmikroskopie (= SEM)
RFA Röntgenfluoreszenzspektrometrie
RHEED Reflection high energy electron diffraction
RKM Raster-Kraftmikroskop (= AFM, AFP)
RRS Rutherford-Rückstreu-Spektrometrie (= RBS)
RTM Rastertunnelmikroskop (= STM)
SA(E)D Selected area (electron) diffraction (in CTEM)
SAXS Small angle X-ray diffraction
SEM Scanning electron microscopy (= REM)
SERS Surface enhanced Raman spectrometry
SEXAFS Surface EXAFS
SIMS Sekundärionenmassenspektroskopie
SNMS Sputtered neutrals mass spectrometry
SQUID Superconducting QUantum Interference Device
SSMS Spark source mass spectrometry (= FMS)
STA Simultane Thermoanalyse
STEM Scanning transmission electron microscopy, Raster-Transmissions-Elektronenmikroskopie
STM Scanning tunneling microscopy (= RTM)
TEM Transmissionselektronenmikroskopie
TG/DTG Massenänderung während eines Prozesses
THEED Transmission high energy electron diffraction, hochenergetische Transmissionselektronenbeugung
THEELS Transmission high energy electron loss spectrometry, hochenergetische Transmissionselektronen-Energieverlustspektrometrie
TMA Thermisch mechanische Analyse
TXRF Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzspektrometrie
UPS Ultraviolett-Photoelektronenspektrometrie
WAXS Wide angle X-ray diffraction
WLD-RFA Wave length dispersive X-ray spectrometry
XPS X-ray photoelectron spectrometry
XR(F)S X-ray fluorescence spectrometry (= RFA)
XRD X-ray diffraction, Röntgenbeugungsanalytik
XRR X-ray reflectometry, Reflektometrie
ZAF Ordnungszahl (=Probendichte), Absorption, Fluoreszenz-Korrektur für die RFA-Auswertung in der ESMA
  Acousto sizer, Partikelgrößenbestimmung
  CNO-Elementaranalyse
  Dynamische Rotationsrheometrie
  Dynamische mechanische Prüfungen (dynamic mechanical testing)
  Fraktographie
  Härteprüfung (hardness testing)
  Impedanzspektroskopie
  IU, LU Kennlinie
  Kathodolumineszenz
  Lichtmikroskop
  Lumineszenz Spektroskopie
  Materialsynthese
  Polarographie-Voltametrie
  Präparative Metallographie
  Qualitative Gefügeanalyse (qualitative microstructure analysis)
  Quantitative Gefügeanalyse (quantitative microstructure analysis)
  Heliumpyknometer
  Rißfortschrittsmessung (crack propagation analysis)
  Statische mechanische Prüfungen (static mechanical testing)
  UHV-Magnetron Sputtern
  UV/Vis/NIR Spektrometrie