Strukturbestimmung von Einkristallen mit Röntgenbeugung (XRD)

Strukturbestimmung von Einkristallen mit Röntgenbeugung (XRD)

Gerät: 4-Kreisdiffraktometer STOE Stadi-4, Enraf-Nonius CAD 4

Einsatzgebiet: Bestimmung der Kristallstruktur von Einkristallen

Analytische Charakteristika: alle Kristallsysteme, Temperaturbereich 100 K < T < 600 K