Rasterelektronenmikroskopie

Rasterelektronenmikroskopie

Gerät: ZEISS DSM 962 mit TRACOR VOYAGER EDX

Einsatzgebiet: Untersuchungen der Oberfläche von Feststoffen und ortsaufgelöste chemische Analyse ab Element B

Charakteristika: Auflösung: 10 nm lateral

Detektoren: Sekundärelektronen (SE), Rückstreuelektronen (BSE), Si-Detektor (EDX)

Probengröße: max. 75mm x 75mm x 35mm (L x B x H)

Kippwinkel: Variabel 0° – 90°

Spannung: 1 kV – 30 kV

Bildarchivierung: Videoprint, Speichern in TIF-Format auf 3,5“ oder ZIP-Diskette