Spektroskopie und Winkelauflösende Photoelektronenspektroskopie

Spektroskopie und winkelauflösende Photoelektronenspektroskopie

Spektromikroskopie (im Aufbau): Photoemissions-Elektronen-Mikroskop (PEEM) mit Mikro-ESCA-Energiefilter und hochauflösendem XPS sowie Röntgen-Nahkantenspektroskopie (NEXAFS)

Gerät: Selbstbau

Einsatzgebiet: Qualitative und quantitative Analytik von Oberflächen und Grenzflächen

Analytische Charakteristika:

Tiefenauflösung 0.2 – 2 nm

Spektrale Auflösung: < 0.1 eV (XPS)

Laterale Auflösung < 1 mm

Nachweisstärke: strukturelle, elektronische und chemische Informationen über Oberflächen und Grenzflächen, innere Grenzflächen sind über zielgerichtete Experimente zugänglich

winkelauflösende Photoelektronenspektroskopie

Präparationskammer mit Spaltzange, Sputtereinheit,

Aufdampf-Kammer mit heizbarem und kühlbarem Probenträger und verschiedenen Aufdampfquellen

Gerät: VG ADES 500

Einsatzgebiet: elektronische Struktur von Oberflächen und Grenzflächen

Analytische Charakteristika:

Tiefenauflösung 0.5 nm

Spektrale Auflösung: < 0.2 eV

Nachweisstärke: Elektronenstruktur von Oberflächen und Grenzflächen

Höchstauflösungs-Analyse: Dieses Spektrometersystem bietet die Möglichkeit der lateralen Auflösung besser als 1 µm und mit höchster Energieauflösung. Durch die aufwendige Nutzung von Synchrotronstahlung und den vorliegenden Präparationseinheiten sind spezifische Analyseprobleme mit extrem hohem Aufwand lösbar.